联系人:何兴菊
联系电话:0574-27976112; 27975197 ;27868496 ;27976124
传真号码:0574-87460769
移动电话:18157427375
公司地址:宁波市江北区洪塘C区开元路225弄58号
Email:18157427375@163.com
公司网址:http://www.Lxtester.cn
QQ:1273574117

联系人:何兴菊
联系电话:0574-27976112; 27975197 ;27868496 ;27976124
传真号码:0574-87460769
移动电话:18157427375
公司地址:宁波市江北区洪塘C区开元路225弄58号
Email:18157427375@163.com
公司网址:http://www.Lxtester.cn
QQ:1273574117


联系人:蒙小姐
联系电话:18157427371
传真号码:0574-87460769
QQ:2622649231
产品详情
  • 产品名称:多功能数字式四探针测试仪,四探针半导体电阻率测试仪

  • 产品型号:
  • 产品厂商:ROOKO
  • 产品价格:0
  • 折扣价格:0
  • 产品文档:
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍:
多功能数字式四探针测试仪,四探针半导体电阻率测试仪方阻就是方块电阻,指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻,如图一所示,即B边到C边的电阻值。方块电阻有一个特性,即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的,不管边长是1米还是0.1米,它们的方阻都是一样,这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关
详情介绍:
FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪

多功能数字式四探针测试仪,四探针半导体电阻率测试仪
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。


本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
 
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高**度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
 
 
规格型号
FT-341
FT-342
FT-343
FT-345
FT-346
FT-347
1.方块电阻范围
10-4~2×105Ω/□
10-4~2×103Ω/□
10-3~2×105Ω/□
10-3~2×103Ω/□
10-2~2×105Ω/□
10-2~2×103Ω/□
2.电阻率范围
10-5~2×106Ω-cm
10-5~2×104-cm
10-4~2×106Ω-cm
10-4~2×104-cm
10-3~2×106Ω-cm
10-3~2×106Ω-cm
3.测试电流范围
0.1μA,μA,0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
0.1μA,μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA
4.电流精度
±0.1%读数
±0.2%读数
±0.2%读数
±0.3%读数
±0.3%读数
±0.3%读数
5.电阻精度
6.显示读数
大屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式
双电测量
8.工作电源
输入耗:(标准样片结果)
10.选购功能
选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台
 
 
ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重;优良与智慧之原
 

方块电阻如何测试呢,可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料呢?

不可以的,因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻,而这个点到点之间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻,首先我们需要在
边各压上一个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒,而且这个圆铜棒光洁度要高,以便和导电膜接触良好。

这样我们就可以通过用万用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻。
之间的距离,至于之间的距离没有要求,一般在)用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧,几十毫欧,甚至更小的方阻值,()测试精度高。由于毫欧计等仪器的精度很高,方阻的测试精度主要由膜宽之间的距离为毫欧计读数。  探头由四根探针阻成,要求四根探针头部的距离相等。

四根探针由四根引联接到方阻测试仪上,当探头压在导电薄膜材料上面时,方阻计就能立即显示出材料的方阻值,具体原理是外端的两根探针产生电流场,内端上两根探针测试电流场在这两个探点上形成的电势。因为方阻越大,产生的电势也越大,因此就可以测出材料的方阻值。需要提出的是虽然都是四端测试,但原理上与图二所示用铜棒测方阻的方法不同。因电流场中仅少部分电流在

多功能数字式四探针测试仪,四探针半导体电阻率测试仪
标题:
内容:
联系人:
联系电话:
Email:
公司名称:
联系地址:
 
 
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!