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产品详情
  • 产品名称:高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤

  • 产品型号:FT-340
  • 产品厂商:ROOKO
  • 产品价格:0
  • 折扣价格:0
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简单介绍:
高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤适用于电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式。高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。配套选择方案手持式四探针测试仪高温四探针测试仪普通四探针测试仪低阻四探针测试仪高阻四探针测试仪
详情介绍:

适用范围

1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,

 高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤

功能描述Description:

1. 四探针组合双电测量方法

2. 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.

3. 集成电路系统、恒流输出.

4. 选配:PC软件进行数据管理和处理.

5. 提供中文或英文两种语言操作界面选择

参照标准:

1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

高分子材料半导体电阻率测试仪安装步骤

步骤及流程

1. 开启电源,预热5分钟.

2. 装配好探头和测试平台.

3. 设定所需参数.

4. 测量样品

5. 导出数据.



 



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